02-3471-4100 info@chayon.co.kr
Select Page

Atomic force Microscope

OVERVIEW

원자현미경을 활용해 샘플의 Topography, Morphology를 보며 다양한 기계적 특성 (접착, 강성, 마찰 등) 전기적 특성 (정전 용량, 정전기력, 일함수, 전류 분포도) 등을 연구할 수 있습니다.
SEM,TEM과는 다르게 시료의 전처리가 필요 없어 신속한 측정이 가능하며 Bio, Material, Polymer 등 다양한 분야에서 활용 가능합니다.

Material Field AFM measurement

AFM topography of SiC showing 1.5 nm steps on its surface

Topography on multilayer graphene (scan size : 8um) 

KPFM on multilayer graphene (scan size : 8um)

Topography of locally deposited charges on an insulating oxide surface (scan size : 10um)

Conductive AFM on ITO

Magnetic force microscopy on polished stainless steel (scan size : 80um) 

Polycarbonate gratings (scan size : 90um , height range : 1.5um)

Copolymer (scan size : 1um , height range : 8nm)

Polymeric glass (scan size : 5um , height range : 16nm)

AFM images of gold film on ceramic grains (scan size : 40um , height range : 200nm)

AFM phase image of a polymer blend (scan size : 20um)

Bio field AFM measurement

High-resolution topography image of double-stranded DNA (dsDNA) adsorbed to mica in buffer solution  (110nm)

AFM for dental implants (scan size : 80um , height range :200nm)

Hair surface with Dynamic mode ( scan size : 40um , height range : 3um)

Tissue samples ( scan size : 30um , height range : 4um)

Living Rat-2 cells ( scan size : 60um )

Collagen fibrils ( scan size : 4.35um , height range : 300nm)

Force mapping of living cultured cells

Atomic lattice of mica (7nm)

dsDNA imaged in dynamic force mode

AFM image of linearized plasmid DNA (scan size :2um, height range : 1.4nm)

Video

Nanosurf AFM

Adding AFM in your optical microscope

Nanosurf CoreAFM

Overview and tutorial

Webinar

Introducing DriveAFM high-end AFM system

Webinar

Choosing betweeen scanning probe and scanning electron microscope

Webinar

AFM in the materials and life sciences- theory and applications

Webinar

Picobalance:
Mass measurements with DriveAFM

Functionality overview

DriveAFM

초고사양의 AFM 으로 Bio, Material 등 모든 분야에서 사용할 수 있는 AFM

CleanDrive : 기존에 사용하는 Piezo shaker 대신 photothermal excitation 기술로 ultra low noise 실현
Direct drive -Tip Scanning : Tip scanning 방식으로 샘플의 종류와 무게가 실험에 끼칠 수 있는 영향을 최소화
도립현미경과 호환 가능하여 현미경을 사용해 타겟팅 한 후 해당 지역 바로 측정

FlexAFM

High resolution, 모듈화되어 원하는 옵션 부착 가능한 AFM

도립현미경과 호환 가능
Compact 하며 glovebox, Fab, Cleanroom 등 에서도 최상의 퍼포먼스
각 모듈이 최고의 퍼포먼스를 낼 수 있도록 설계, 모듈화
합리적 가격

반도체 디스플레이 연구 및 세포 실험용 AFM을 미리 체험해보세요!

데모 신청

CoreAFM

Integrated system으로 사용자 편의성 극대화

수행 가능한 모든 기능을 포함한 AFM
33가지 모드와 기능을 가지고 있으며 언제든 추가 가능
Topview 와 sideview 제공으로 cantilever 움직임 실시간 확인

LensAFM

Atomic Force Microscope for Upright Microscope & 3D Profilometer

정립 현미경에 탈부착하는 형태의 AFM
간단한 topography 및 SEM 이미지 측정 이전에 AFM 측정에 용이
현미경으로 targeting 후 바로 AFM 이미지 측정 가능

NaioAFM

Atomic Force Microscope for Education

All in one system으로 compact하며 사용자 편의성 극대화
Tapping mode, contact mode 모두 사용 가능

상담문의

관심분야

데모 관련상담이 필요하신가요? (FlexAFM)

6 + 13 =