Atomic force Microscope
원자현미경을 활용해 샘플의 Topography, Morphology를 보며 다양한 기계적 특성 (접착, 강성, 마찰 등) 전기적 특성 (정전 용량, 정전기력, 일함수, 전류 분포도) 등을 연구할 수 있습니다. SEM,TEM과는 다르게 시료의 전처리가 필요 없어 신속한 측정이 가능하며 Bio, Material, Polymer 등 다양한 분야에서 활용 가능합니다.
Material Field AFM measurement
AFM topography of SiC showing 1.5 nm steps on its surface
Topography on multilayer graphene (scan size : 8um)
KPFM on multilayer graphene (scan size : 8um)
Topography of locally deposited charges on an insulating oxide surface (scan size : 10um)
Conductive AFM on ITO
Magnetic force microscopy on polished stainless steel (scan size : 80um)
Polycarbonate gratings (scan size : 90um , height range : 1.5um)
Copolymer (scan size : 1um , height range : 8nm)
Polymeric glass (scan size : 5um , height range : 16nm)
AFM images of gold film on ceramic grains (scan size : 40um , height range : 200nm)
AFM phase image of a polymer blend (scan size : 20um)
Bio field AFM measurement
High-resolution topography image of double-stranded DNA (dsDNA) adsorbed to mica in buffer solution (110nm)
AFM for dental implants (scan size : 80um , height range :200nm)
Hair surface with Dynamic mode ( scan size : 40um , height range : 3um)
Tissue samples ( scan size : 30um , height range : 4um)
Living Rat-2 cells ( scan size : 60um )
Collagen fibrils ( scan size : 4.35um , height range : 300nm)
Force mapping of living cultured cells
Atomic lattice of mica (7nm)
dsDNA imaged in dynamic force mode
AFM image of linearized plasmid DNA (scan size :2um, height range : 1.4nm)
Video
Nanosurf AFM
Adding AFM in your optical microscope
Nanosurf CoreAFM
Overview and tutorial
Webinar
Introducing DriveAFM high-end AFM system
Webinar
Choosing betweeen scanning probe and scanning electron microscope
Webinar
AFM in the materials and life sciences- theory and applications
Webinar
Picobalance:
Mass measurements with DriveAFM
Functionality overview
DriveAFM
고사양의 AFM 으로 Bio-field , Material field 등 다양한 분야에서 사용할 수 있는 주사탐침현미경
CleanDrive : 기존에 사용하는 Piezo shaker 대신 photothermal excitation 기술로 ultra low noise 실현
Direct drive -Tip Scanning : Tip scanning 방식으로 샘플의 종류와 무게가 실험에 끼칠 수 있는 영향을 최소화
도립현미경과 호환 가능하여 현미경을 사용해 타겟팅 한 후 해당 지역 바로 측정
FlexAFM
팁을 사용한 표면 형상 측정 및 표면 분석 주사탐침현미경
도립현미경과 호환 가능
Compact 하며 glovebox, Fab, Cleanroom 등 에서도 최상의 퍼포먼스
각 모듈이 최고의 퍼포먼스를 낼 수 있도록 설계, 모듈화
합리적 가격
CoreAFM
AFM으로 수행 가능한 모든 기능을 포함한 장비
Integrated system으로 사용자 편의성 극대화
33가지 모드와 기능을 가지고 있으며 언제든 추가 가능
Topview 와 sideview 제공으로 cantilever 움직임 실시간 확인
LensAFM
Atomic Force Microscope for Upright Microscope & 3D Profilometer
정립 현미경에 탈부착하는 형태의 AFM
간단한 topography 및 SEM 이미지 측정 이전에 AFM 측정에 용이
현미경으로 targeting 후 바로 AFM 이미지 측정 가능
NaioAFM
Atomic Force Microscope for Education
All in one system으로 compact하며 사용자 편의성 극대화
Tapping mode, contact mode 모두 사용 가능